Highly Accelerated Stress Testing (HAST) is in heul effektive testmetoade ûntworpen om de betrouberens en it libben fan elektroanyske produkten te evaluearjen. De metoade simulearret de spanningen dy't elektroanyske produkten oer in lange perioade kinne ûnderfine troch se te ûnderwerpen oan ekstreme omjouwingsomstannichheden - lykas hege temperatueren, hege fochtigens en hege druk - foar in heul koarte perioade fan tiid. Dizze testen fersnelt net allinich de ûntdekking fan mooglike defekten en swakkens, mar helpt ek om potinsjele problemen te identifisearjen en op te lossen foardat it produkt wurdt levere, sadat de algemiene kwaliteit fan it produkt en brûkerstefredenheid ferbetterje.
Testobjekten: Chips, moederborden en mobile tillefoans en tablets dy't heul fersnelde stress tapasse om problemen te stimulearjen.
1. It oannimmen fan ymporteare hege temperatuerbestindige solenoïde fentyl dual-channel struktuer, oant it grutste mooglik om it gebrûk fan 'e mislearring te ferminderjen.
2. Unôfhinklike stoomgenerearjende keamer, om direkte ynfloed fan stoom op it produkt te foarkommen, om gjin lokale skea oan it produkt te feroarjen.
3. Door slot saving struktuer, te lossen de earste generaasje fan produkten disc type handle locking dreech tekoartkommingen.
4. Exhaust kâlde lucht foar de test; test yn de exhaust kâlde lucht design (test barrel lucht discharge) te ferbetterjen druk stabiliteit, reproducibility.
5. Ultra-lange eksperimintele rinnende tiid, lange eksperimintele masine rint 999 oeren.
6. Wetter nivo beskerming, troch de test keamer wetter nivo Sensor detection beskerming.
7. Wetterfoarsjenning: automatyske wetterfoarsjenning, de apparatuer komt mei in wettertank, en net bleatsteld om te soargjen dat de wetterboarne net fersmoarge is.
